ハイブリットIC等に振動や衝撃を加え、内部に存在する異物の有無を判定することが出来ます。
異物混入による混入によるショート等の事故を未然に防ぐことができます。
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内藤電誠工業株式会社評価解析事業部は、半導体製品の信頼性評価（耐候性試験）／実装評価（耐熱性試験）／調査解析（外観／非破壊／半破壊／破壊）を行います。
〒213-0011 神奈川県川崎市高津区久本3-9-25
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ハイブリットIC等に振動や衝撃を加え、内部に存在する異物の有無を判定することが出来ます。
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装置外観図/PIND01.jpg) |
周波数：40Hz(27Hz)～260Hz 加速度：0～20Gピーク 衝撃：1000±200G トランスデゥーサ：感度－77.5±3db ステージ：2インチ |
/PIND02.jpg) |
/PIND03.jpg) 試験実施中の画面 |
/PIND04.jpg) 試験結果画面 |
/PIND05.jpg) Fail画面 |
/PIND06.jpg) 不良ノイズ波形 |
内藤電誠工業株式会社
評価解析事業部（溝ノ口工場）
〒213-0011 神奈川県川崎市高津区久本3-9-25
