内藤電誠工業株式会社評価解析事業部は、半導体製品の信頼性評価（耐候性試験）／実装評価（耐熱性試験）／調査解析（外観／非破壊／半破壊／破壊）を行います。
〒213-0011 神奈川県川崎市高津区久本3-9-25
サイトマップ
HOME
信頼性評価
実装評価
調査解析
ISO認定
会社概要
お問い合わせ
調査解析サービス内容
>>
調査解析装置一覧
>>調査解析事例
ここでは実際の解析事例をご覧いただけます。
調査解析事例
事例17
卓上精密万能試験事例
詳細はこちら
事例16
X線CT観察事例
詳細はこちら
事例15
デジタルマイクロスコープ撮影事例
詳細はこちら
事例14
PIND試験事例
詳細はこちら
事例13
レーザーパッケージ開封事例
詳細はこちら
事例12
ボンドテスタ事例
詳細はこちら
事例11
リチウムイオン電池解析事例
詳細はこちら
事例10
断面／平面解析事例
詳細はこちら
事例9
PKGの開封事例／基板実装品の開封事例／LEDの開封事例／ドライエッチング（RIE）
詳細はこちら
事例8
Cuワイヤ開封
詳細はこちら
事例7
SEM観察の事例
詳細はこちら
事例6
銅ワイヤーボンディング断面観察事例
詳細はこちら
事例5
成分分析の事例
詳細はこちら
事例4
SAT観察の解説
詳細はこちら
事例3
SAT観察事例 QFPの観察
詳細はこちら
事例2
クロスセクションポリッシャー 観察事例 フラットミリング
詳細はこちら
事例1
マイクロフォーカスX線解析 観察事例 FCBGA
詳細はこちら
▲このページの上へ
Copyright © 2005 Naito Densei Co.,Ltd. All rights Reserved.
