電子部品・半導体の信頼性評価・試験、調査解析なら内藤電誠工業

■耐環境試験
■信頼性試験（導体抵抗モニタシステム）
■寿命推定試験
■機械的環境試験
■ハイパワー環境試験
■2次実装評価
■リフロー耐熱性試験
■熱抵抗測定（製品サンプルで測定可能）

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低真空SEM観察

通常SEMでは観察が困難な試料でも、低真空SEMであれば観察が可能です。

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真贋調査サービス

正規品(良品)と調査品(模倣品)を比較調査し真贋判定を行います

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ISO17025試験所認定

ISO／IEC17025試験所認定を2020年10月19日に取得

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	■取り扱い製品・半導体デバイス・電子部品・SMT基板・2次実装品　等

2024.10.11		2024年度、弊社保有設備について、下記設備を追加導入しました。・高温高湿試験装置：ESPEC製、PL-4Jを1台追加　(温度範囲：-40℃～100℃、湿度範囲：20％～98％) ・恒温試験装置：ESPEC製、PH202を1台追加　 (制御温度範囲：～200℃) ・恒温試験装置：ESPEC製、PHH202を1台追加　 (制御温度範囲：～300℃)
2024.08.02		夏季休暇のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2024年08月10日(金)～2024年08月18日(日) 2024年08月19日（月）より平常営業致します。
2024.06.18		電子機器2024ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝご来場の御礼電子機器2024ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝにおきまして、弊社ﾌﾞｰｽに多数のご来訪をいただき、まことにありがとうございました。開催期間において、125社の方々に足を運んでいただくことができました。
2024.05.30		電子機器2024ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝ出展詳細のご連絡会期：2023年06月12日（水）～6月14日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：東展示棟東6ホールブースNo.6H-14 弊社出展の詳細はこちら
2024.05.21		電子機器2024ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝ出展のご連絡会期：2024年06月12日（水）～6月14日（金）会場：東京ビックサイト弊社出展の詳細につきましては、決定次第改めてお知らせいたします。
2024.04.19		ｺﾞｰﾙﾃﾞﾝｳｨｰｸのお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2024年04月27日(土)～2024年05月06日(月) 2024年05月07日(火)より通常営業いたします。 ※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して　　おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2024.01.29		ネプコンジャパンご来場の御礼第38回ネプコンジャパン展示会におきまして、弊社ﾌﾞｰｽに多数のご来訪をいただき、まことにありがとうございました。開催期間において、204社の方々に足を運んでいただくことができました。
2024.01.09		第38回ネプコンジャパン出展のご連絡会期：2024年01月24日（水）～26日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：東展示棟　東1ホール　ブースNo.E2-16 弊社出展の詳細はこちら
2024.01.05		新年のご挨拶あけましておめでとうございます 1月5日より2024年の業務開始となります。信頼性評価、解析業務等にご用命等ございましたらお気軽にご相談ください。
2023.12.25		年末年始休業のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2023年12月29日(金)～2024年1月4日(木) 最終受付は12/27(水)までとなりますのでご了承ください。
2023.12.05		2023年度、弊社保有設備一覧を更新致しました。１ページ目：恒温恒湿試験装置、高度加速寿命試験装置詳しくはこちらをご参照ください。
2023.12.01		NIHONNBASHI SPACE WEEK2023ご来場の御礼 NIHONBASHI SPACE WEEK2023展示会におきまして、弊社ﾌﾞｰｽに多数のご来訪をいただき、まことにありがとうございました。開催期間の3日間において、72社の方々に足を運んでいただくことができました。
2023.11.24		第38回ネプコンジャパン出展決定会期：2024年01月24日（水）～26日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）弊社出展の詳細につきましては、決定次第改めてお知らせいたします。
2023.10.13		NIHONBASHI SPACE WEEK 2023詳細続報、出展スペース決定日時：2023年11月27日（月）～29日（水）会場：日本橋三井ﾎｰﾙ, 4F 出展スペース：B-6「内藤電誠工業」上記出展について、詳細続報をお知らせいたします。出展スペースはこちらイベント情報はこちら
2023.10.06		2023年度、弊社保有設備一覧を更新致しました。１ページ目：恒温恒湿試験装置、高度加速寿命試験装置詳しくはこちらをご参照ください。
2023.09.29		NIHONBASHI SPACE WEEK 2023出展決定日時：2023年11月27日（月）～29日（水）会場：日本橋三井ﾎｰﾙ, 4F イベント情報はこちら
2023.07.27		夏季休暇のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2023年08月11日(金)～2023年08月20日(日) 2023年08月21日（月）より平常営業致します。
2023.06.09		電子機器2023ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝご来場の御礼電子機器2023ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝにおきまして、弊社ﾌﾞｰｽに多数のご来訪をいただき、まことにありがとうございました。開催期間において、153社の方々に足を運んでいただくことができました。
2023.04.28		電子機器2023ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝ出展のご連絡会期：2023年05月31日（水）～6月2日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：東展示棟東6ホールブースNo.6A-12 弊社出展の詳細はこちら
2023.04.21		ｺﾞｰﾙﾃﾞﾝｳｨｰｸのお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2023年04月29日(土)～2022年05月07日(日) 2023年05月08日(月)より通常営業いたします。 ※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して　　おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2023.01.31		ネプコンジャパンご来場の御礼第37回ネプコンジャパン展示会におきまして、弊社ﾌﾞｰｽに多数のご来訪をいただき、まことにありがとうございました。開催期間において、201社の方々に足を運んでいただくことができました。
2022.01.05		新年のご挨拶あけましておめでとうございます 1月5日より2022年の業務開始となります。信頼性評価、解析業務等にご用命等ございましたらお気軽にご相談ください。
2022.12.22		第37回ネプコンジャパン出展のご連絡会期：2023年01月25日（水）～27日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：東展示棟　東1ホール　ブースNo.3-32 弊社出展の詳細はこちら
2022.12.15		年末年始休業のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2022年12月29日(木)～2023年1月4日(水) 最終受付は12/26(月)までとなりますのでご了承ください。
2022.11.30		2022年度、弊社保有設備一覧を更新致しました。１ページ目：冷熱衝撃試験槽２ページ目：試料研磨装置、走査型電子顕微鏡詳しくはこちらをご参照ください。
2022.10.06		【新規設備】低真空分析SEM観察通常SEMでは観察が困難な試料に対しても低真空分析 SEMであれば観察が可能です。詳細はこちらをご参照ください。
2022.07.29		夏季休暇のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2022年08月11日(木)～2022年08月17日(水) 2022年08月18日（木）より平常営業致します。
2022.07.22		弊社溝口工場へのアクセスについて弊社では「手指の消毒と検温、三蜜回避」を徹底しており、ご希望であればお客様と対面での打ち合わせ対応を実施しております。ご検討案件などございましたら、お気軽にご相談をいただき、ご来社の際には気を付けて起こし下さい。詳細はこちらをご参照ください。
2022.06.21		電子機器2022ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝご来場の御礼電子機器2022ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝにおきまして、弊社ﾌﾞｰｽに多数のご来訪をいただき、まことにありがとうございました。開催期間において、174社の方々に足を運んでいただくことができました。
2022.05.24		電子機器2022ﾄｰﾀﾙｿﾘｭｰｼｮﾝ出展のご連絡会期：2022年06月15日（水）～17日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：東展示棟東5ホールブースNo.5H-19 弊社出展の詳細はこちら
2022.04.18		ｺﾞｰﾙﾃﾞﾝｳｨｰｸのお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2022年04月29日(金)～2022年05月08日(日) 2022年05月09日(月)より営業いたします。 ※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して　　おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2022.01.05		新年のご挨拶あけましておめでとうございます 1月5日より2022年の業務開始となります。信頼性評価、解析業務等にご用命などございましたらお気軽にご相談ください。
2021.12.24		第36回ネプコンジャパン出展のご連絡会期：2022年01月19日（水）～21日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：東展示棟　東1ホール　ブースNo.9-54 弊社出展の詳細はこちら
2021.12.21		年末年始休業のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2021年12月29日(水)～2022年1月4日(火) 最終受付は12/24(金)までとなりますのでご了承ください。
2021.11.19		第36回ネプコンジャパン出展決定前回につきましては、新型コロナ感染拡大防止の観点より出展を見送りましたが、今回につきましては感染防止対策を万全に行ない、出展する事が決定致しました。出展ブース等の詳細につきましては、決定次第改めてお知らせいたします。
2021.09.10		電子部品模倣品調査サービス半導体の模倣品（違法コピー商品）調査の相談を受け賜わります。正規品（良品）と調査品（模倣品）を比較調査（非破壊・破壊）し、検証を行います。お問合せはフォームより申し込み願います。
2021.09.08		【ISO/IEC17025試験所認定】認定証をupしました。認定機関：公益財団法人　日本適合性認定協会(JAB) 認定番号：RTL04800 有効期限：2020年10月19日～2024年10月31日認定範囲：分野 M21 電気試験　分類コード及び名称:M21.5　環境試験　　　　　　　　　　　　　　 M21.5.3温度変化試験　試験規格:JIS C60068-2-14（IEC 60068-2-14）　試験Ｎｂ（6.1、6.2を除く）温度範囲　低温Tc：-40℃～0℃ 　高温Tb：+65℃～+85℃ 詳細はこちらをご参照ください。
2021.07.27		夏季休暇のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2021年08月07日(土)～2021年08月15日(日) 2021年08月16日（月）より平常営業致します。
2021.07.08		Ｙｏｕ Tube（ＹＸＬＯＮチャンネル）Ｘ線CT観察事例説明弊社保有のＸ線ＣＴ装置(Cheetah EVO)を用いた観察事例のインタビュー動画です。Ｘ線観察／CT観察のご依頼の参考にご覧ください。
2021.06.28		Ｙｏｕ Tube（ＹＸＬＯＮチャンネル）での事業案内弊社保有のＸ線ＣＴ装置(Cheetah EVO)メーカーのエクスロン・インターナショナル（株）よりインタビューを受け、 You Tubeに登録されました。事業説明と工場内の設備ラインナップが視聴いただけますので、是非ご覧ください。
2021.05.27		弊社溝口工場へのアクセスについて弊社では「手指の消毒と検温、三蜜回避」を徹底しており、ご希望であればお客様と対面での打ち合わせ対応を実施しております。ご検討案件などございましたら、お気軽にご相談をいただき、ご来社の際には気を付けて起こし下さい。詳細はこちらをご参照ください。
2021.04.26		ｺﾞｰﾙﾃﾞﾝｳｨｰｸのお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2021年04月29日(木)～2021年05月05日(水) 2021年05月06日(木)より営業いたします。 ※信頼性試験の試験槽は上記期間中も稼働して　　おりますので、ご入用の場合はご相談ください。
2021.02.25		Webによる評価、解析へのご相談対応のお知らせ弊社では新型コロナ感染予防対策として、信頼性評価や解析など検討されているお客様に対して、 Webによる打ち合わせやご相談などの対応も行っております。感染拡大予防と移動効率の両立の為に活用いただければ幸いです。
2021.01.12		非常事態宣言下における弊社業務のお知らせ弊社では「三密回避と毎日の検温、手指の消毒」を徹底して業務やお客様対応を実施しております。信頼性評価、または解析依頼のご検討案件などございましたら、お気軽にご相談ください。
2021.01.05		新年のご挨拶あけましておめでとうございます本日1月5日より2021年の業務開始となります。信頼性評価、解析業務等にご用命等ございましたらお気軽にご相談ください。
2020.12.23		年末年始休業のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2020年12月29日(火)～2021年1月4日(月) 最終受付は12/25(金)までとなりますのでご了承ください。
2020.12.15		第35回ネプコンジャパン(2021年度１月会期)出展見送り 7年連続出展しておりました、半導体パッケージング技術展(ICP)に関し新型コロナ感染拡大防止の観点より、出展を見送ることに致しました。
2020.11.05		【ISO/IEC17025試験所認定】認定取得しました。認定機関：公益財団法人　日本適合性認定協会(JAB) 認定番号：RTL04800 有効期限：2020年10月19日～2024年10月31日認定範囲：分野 M21 電気試験　分類コード及び名称:M21.5　環境試験　M21.5.3温度変化試験　試験規格:JIS C60068-2-14（IEC 60068-2-14）試験Ｎｂ（6.1、6.2を除く）詳細はこちらをご参照ください。
2020.10.19		Ｘ線観察オンライン立合（リモート立合）のお知らせ。新型コロナ感染予防対策での新しい働き方のスタイルとして、X線観察のオンライン立会(リーモート立合)サービスを開始しました。運用はこれからの為、段取りの良くないところがあるかも知れませんが、感染拡大予防と移動効率の両立の為に活用頂ければ幸いです。詳細はこちらをご参照ください。
2020.07.31		夏季休暇のお知らせ弊社は下記の期間、休業となります。 2020年08月08日(土)～2020年08月16日(日) 2020年08月17日（月）より平常営業致します。
2020.07.28		2020年度、弊社パンプレットを更新致しました。詳しくはこちらをご参照ください。
2020.06.26		新型コロナウイルス感染拡大に伴う当社の対応についてこのたびの新型コロナウイルス感染症で影響を受けられた皆様には心よりお見舞い申し上げます。また、感染拡大防止や生活インフラ等の維持・運営に尽力されている皆様には心から感謝申し上げます。弊社では、第2波、第3波に備え、当社でも、お客様と従業員の感染拡大防止の観点から対策を強化し、必要な対策を実施しております。在宅でのテレワークや、フレックスタイム制度を活用しての時差出勤などを推奨しております。その為、各種お問い合わせにつきましても、迅速な対応を努めておりますが、お時間をいただく場合が御座います。お客様にはご不便ご迷惑をお掛けしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。
2020.06.05		2020年夏に【ISO/IEC17025試験所認定】を取得予定！・認定項目：【電気試験/環境試験：温度ｻｲｸﾙ試験(JIS C 60068-2-14)】・認定予定試験機：ハイパワー恒温恒湿器(型番：ARSF-0800-15)
2020.04.27		ｺﾞｰﾙﾃﾞﾝｳｨｰｸのお知らせ
2020.04.24		新型コロナウイルス感染拡大に伴う当社の対応について当社では、在宅でのテレワーク、フレックスタイム制度を活用しての時差出勤などを推奨しておりますが試験等は稼働しております。何か御座いましたら、当社にご相談ください。
2020.03.30		卓上精密万能試験事例に【事例：基板FPCピール強度試験】を追加致しました。
2020.03.05		卓上精密万能試験事例を追加致しました。
2020.03.04		X線CT観察事例を追加致しました。
2020.03.03		デジタルマイクロスコープ撮影事例を追加致しました。
2019.12.13		第21回半導体・ｾﾝｻﾊﾟｯｹｰｼﾞ技術展に出展致しました。会期：2020年01月15日（水）～17日（金）会場：東京ビックサイト（アクセスはこちら）展示スペース：西展示棟　ブースNo.W11-68
2019.12.13		年末年始休暇のお知らせ
2019.12.03		PIND試験事例を追加致しました。
2019.10.30		EMI試験事例を追加致しました。
2019.10.24		第32回テクノトランスファーinかわさき２０１９に出展致しました。会期：2019年11月13日（水）～15日（金）会場：カルッツかわさき（アクセスはこちら）展示スペース：2階小体育館　ブースNo.81
2019.08.07		夏季休暇のお知らせ
2019.07.04		信頼性評価事例【衝撃試験】および【振動試験】を追加致しました。
2019.06.25		第49回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。会期：2019年7月18（木）～19（金）会場：日本教育会館（アクセスはこちら）また弊社佐久間が同シンポジウム内で発表致しました。日時：2019年7月18日（木）　16：30～17：00 会館：A館発表タイトル【直並列接続回路型積層セラミックコンデンサの故障解析報告】
2019.06.03		「ＯｎｅＳｔｏｐＮｅｗｓ Vol.4」を発刊致しました。
2019.05.17		マルチフォーカスX線CT装置をリプレース致しました。
2019.05.08		マイクロエレクトロニクスショー2019に出展致しました。会期：2019年6月5日（水）～7日（金）会場：東京ビックサイト　西3ホール（アクセスはこちら）弊社ブース　『　3-151　』
2019.04.25		大型連休休業のお知らせ
2019.03.19		卓上型万能試験機を装置一覧に追加致しました。
2019.01.23		ﾃｸﾆｶﾙｼｮｳﾖｺﾊﾏ2019に出展致しました。
2019.01.08		第20回半導体・ｾﾝｻﾊﾟｯｹｰｼﾞ技術展に出展致しました
2018.11.08		レーザーパッケージ開封事例を追加致しました。
2018.11.06		【EMI測定システム】及び【自動光学測定器】を装置一覧に追加致しました。
2018.10.17		【信頼性評価装置一覧】を更新致しました。
2018.10.03		2018年07月にISO9001-2015年版を認証取得しました
2018.10.02		第8回おおた研究・開発フェアに出展致しました。
2018.09.28		評価解析事例【自動車分野】および【宇宙分野】を追加致しました。
2018.08.06		夏季休暇のお知らせ
2018.06.28		第31回テクノトランスファーinかわさき２０１８に出展致しました。
2018.06.27		第48回信頼性・保全性シンポジウムに出展しました。
2018.06.21		ボンドテスタ事例を追加致しました。
2018.06.20		振動試験機、衝撃試験機を装置一覧に追加致しました。
2018.05.17		「ＯｎｅＳｔｏｐＮｅｗｓ Vol.3」を発刊致しました。
2018.04.25		ＩＳＯ認定内、【環境方針】を更新致しました。
2018.04.17		マイクロエレクトロニクスショー２０１８に出展致しました。
2018.04.04		PIND試験装置を装置一覧に追加致しました。
2018.02.07		テクニカルショウヨコハマ2018に出展致しました。
2017.12.28		第19回半導体パッケージング技術展（ISP）に出展致しました。
2017.12.22		デジタルマイクロスコープを装置一覧に追加致しました。
2017.12.15		レーザーパッケージ開封機を装置一覧に追加しましたボンドテスターを装置一覧に追加致しました。
2017.10.18		「ＯｎｅＳｔｏｐＮｅｗｓ Vol.2」を発刊致しました。
2017.10.30		第7回おおた研究・開発フェア2017に出展致しました。
2017.10.12		第30回マイクロエレクトロニクスワークショップ2017（MEWS）にカタログ出展致します。
2017.08.07		定期情報誌として「ＯｎｅＳｔｏｐＮｅｗｓ」を創刊する事と致しました。
2017.07.31		九州日誠電氣㈱のホームページリンクを設定しました
2017.07.17		第47回信頼性・保全性シンポジウムに出展しました。
2017.07.17		テクノトランスファーinかわさき2017に出展致しました。
2017.05.18		事業案内（パンフレット）リニューアル致しました。
2017.02.28		テクニカルショウヨコハマ2017に出展致しました。
2017.01.31		第18回半導体パッケージング技術展（ICP）に出展致しました。
2016.10.14		マルチフォーカスX線CTを装置一覧に追加しました。
2016.10.14		第29回MEWS2016に出展致しました。
2016.10.07		第6回おおた研究・開発フェア2016に出展致しました。
2016.07.19		第46回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。
2016.07.11		テクノトランスファーinかわさき2016に出展致しました。
2016.06.17		冷熱衝撃槽(300℃タイプ）を導入／事例紹介を追加致しました。
2016.02.08		第37回テクニカルショーヨコハマ2016に出展致しました。
2016.01.18		第17回半導体パッケージング技術展（ICP）に出展致しました。
2015.12.17		マルチフォーカスX線CTを2016年1月に導入致します。
2015.10.26		第28回MEWS2015にカタログ出展致しました。
2015.9.25		染色試験事例を追加リニューアル致しました。
2015.9.18		熱抵抗測定事例を追加リニューアル致しました。
		Cuワイヤ事例を追加リニューアル致しました。
2015.9.11		リフロー耐熱性試験事例を追加リニューアル致しました。
		PKGの開封事例を追加リニューアル致しました。
2015.9.4		温度サイクル連続抵抗モニター評価事例を追加リニューアル致しました。
		断面／平面解析事例を追加リニューアル致しました。
2015.8.28		ハイパワー恒温恒湿試験槽を導入／事例紹介を追加致しました。
		デジタルマイクロスコープを導入致しました。
2015.8.21		事業案内（パンフレット）をリニューアル致しました。
2015.7.16-17		第45回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。
2015.1.14-16		第16回半導体パッケージング技術展（ICP）に出展致しました。
2014.9.30		ドライエッチング装置をリプレイスしました。異方性・等方性の選択エッチング、ファインプロセスLSI、多層配線にも対応したエッチング加工を提供します。
2014.7.10-11		第44回信頼性・保全性シンポジウムに出展致しました。
2014.2.17		リンク集を更新しました。（デンセイシリウス株式会社）
2014.2.4		リチウムイオン電池解析事例を追加しました。
2014.2.4		調査解析サービス内容（エミッション顕微鏡解析・OBIRCH解析、FIB加工・観察）を追加しました。
2014.1.15-17		第15回半導体パッケージング技術展（ICP）に出展致しました。
2013.1.16-18		第14回半導体パッケージング技術展（ICP）に出展致しました。
2012.10.29		ホームページをリニューアルしました。
2012.10.29		事例集（信頼性評価事例、調査解析事例）を追加しました。
2012.10.29		事業案内（パンフレットが開きます）を追加しました。
2010.09.27		温度サイクル試験装置リニューアル　TSA-71H（Hiスペック装置）導入
2010.05.18		断面研磨事例を追加しました。
2009.07.08		調査解析サービスにクロスセクションポリッシャ追加
2009.02.05		クロスセクションポリシャ（CP）新規導入しました。従来の機械研磨では消しきれない微細なスクラッチ傷、ダレ等をアルゴンイオンビームを使用し、ダメージの無いフラットな鏡面をご提供出来ます。

最終更新日 2024/10/11

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内藤電誠工業株式会社評価解析事業部は、半導体製品の信頼性評価（耐候性試験）／実装評価（耐熱性試験）／調査解析（外観／非破壊／半破壊／破壊）を行います。